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Carl Zeiss™ Carl Zeiss™ Mikroskopobjektmikrometer
Fein geteiltes Stufen-Mikrometer zur Kalibrierung optischer Systeme mit Struktur-Strichplatten. Das Mikrometer-Basisplatten-Mikroskop von Carl Zeiss™ bietet Intervalle von 1 mm und 1/100 mm.
Marke: Carl Zeiss™ 474026-0000-000
Weitere Details : Netto-Gewicht : 0.03000kg
Beinhaltet: 5 Linien mit 1 mm-Intervallen in y-Richtung, 100 Linien mit 1/100 mm-Intervallen in y-Richtung
Beschreibung
- Zum Kalibrieren optischer Systeme mit Okular-Raster-Mustern
- 5 Linien mit 1-mm-Intervallen in y-Richtung
- 100 Linien mit 1 /100-mm-Intervallen in y-Richtung
Spezifikation
| Objektmikrometer | |
| Durchsichtmikroskop, Okularraster | |
| Objektmikrometer, 5 Linien mit 1 mm-Intervallen in y-Richtung |